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142千字
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2019-02-01
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主编推荐语
在内容上构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。
内容简介
《射线数字检测技术》内容包括概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录。
随着智能制造在我国的推进，检测技术的数字化在逐步普及。《数字射线检测技术》是我国射线检测老专家郑世才先生和青年专家王晓勇先生共同编写完成的培训教材，本书的前两版获得了业内好评，被很多培训机构选用。如今《数字射线检测技术》第3版上市了，经过本次修订，在内容上契合了新技术的发展，构成了一个基本完整的数字射线检测技术的知识系统，形成了比较清晰的Ⅱ级与Ⅲ级人员要求的区分界定。精心设计了十个实验，使学员在学习理论的同时学会实际检验操作。
目录
- 版权信息
- 前言
- 第1章 概述
- 1.1 数字射线检测技术的发展概况
- 1.2 数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别
- 1.3 数字射线检测技术基本理论
- 1.4 等价性问题
- 1.5 数字射线检测技术标准
- 复习题
- 第2章 辐射探测器与其他器件
- 2.1 辐射探测器概述
- 2.1.1 辐射探测器的类型
- 2.1.2 辐射探测器的一般特性
- 2.1.3 辐射探测器系统
- 2.2 辐射探测器系统的基本性能
- 2.3 分立辐射探测器（DDA）
- 2.3.1 非晶硅辐射探测器
- 2.3.2 非晶硒辐射探测器
- 2.3.3 CCD或CMOS辐射探测器
- 2.3.4 分立辐射探测器的性能
- 2.4 成像板系统（IP板系统）
- 2.4.1 IP板
- 2.4.2 IP板的主要特性
- 2.4.3 IP板系统的基本性能
- 2.5 图像增强器系统
- 2.5.1 图像增强器的基本结构
- 2.5.2 图像增强器系统的探测过程
- 2.5.3 图像增强器系统的主要性能
- 2.6 A/D转换器
- 2.7 射线检测的像质计与线对卡
- 2.7.1 像质计概述
- 2.7.2 常规像质计
- 2.7.3 双丝型像质计
- 2.7.4 线对卡
- 复习题
- 第3章 数字射线检测基本理论
- 3.1 数字图像概念
- 3.1.1 数字图像的基本概念
- 3.1.2 数字图像的空间频率
- 3.1.3 灰度
- 3.1.4 数字图像文件格式
- 3.2 图像数字化基本理论
- 3.2.1 图像数字化过程
- 3.2.2 采样定理
- 3.2.3 量化位数
- 3.3 数字射线检测图像质量
- 3.3.1 检测图像对比度
- 3.3.2 检测图像空间分辨力
- 3.3.3 检测图像信噪比
- 3.4 检测图像与细节识别和分辨
- 3.4.1 检测图像与细节识别的关系
- 3.4.2 检测图像与细节分辨的关系
- 3.5 细节可识别性理论关系式
- 复习题
- 第4章 数字射线检测基本技术
- 4.1 概述
- 4.2 探测器系统选择
- 4.2.1 探测器系统概述
- 4.2.2 探测器系统基本空间分辨力选择
- 4.2.3 规格化信噪比选择
- 4.3 数字射线检测透照技术
- 4.3.1 透照技术控制概述
- 4.3.2 最佳放大倍数
- 4.3.3 源到工件表面的距离
- 4.3.4 曝光曲线
- 4.4 图像数字化参数控制
- 4.5 检测图像显示与缺陷评定技术
- 4.5.1 图像显示与观察条件
- 4.5.2 图像观察识别技术
- 4.5.3 缺陷识别与质量级别评定
- 4.5.4 尺寸测量
- 4.5.5 厚度测定
- 4.6 数字射线检测图像质量控制
- 4.6.1 检测图像质量参数控制
- 4.6.2 图像质量的补偿规则
- 4.7 数字射线检测技术级别近似设计
- 4.7.1 技术级别设计概述
- 4.7.2 检测图像常规像质计指标近似设计
- 4.7.3 检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计
- 4.7.4 例题
- 4.8 数字射线检测技术稳定性控制
- 4.8.1 检测工艺文件（检测程序文件）
- 4.8.2 检测系统性能的长期稳定性试验控制
- 4.8.3 检测工艺卡编制
- 复习题
- 第5章 工业常用数字射线检测系统
- 5.1 概述
- 5.2 DR系统
- 5.2.1 DR系统组成
- 5.2.2 DR系统技术控制
- 5.2.3 探测器响应校正与坏像素修正
- 5.2.4 DR系统应用特点
- 5.3 CR系统
- 5.3.1 CR系统检测基本过程
- 5.3.2 CR系统技术控制
- 5.3.3 CR系统应用
- 5.4 图像增强器数字射线检测系统
- 5.5 微焦点数字射线检测系统
- 5.6 底片图像数字化扫描技术
- 5.6.1 扫描仪概述
- 5.6.2 扫描仪的基本性能指标
- 5.6.3 扫描技术
- 5.6.4 扫描仪选用
- 复习题
- 第6章 等价性问题
- 6.1 等价性问题概述
- 6.2 等价技术级别评定
- 6.2.1 等价技术级别评定概述
- 6.2.2 胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析
- 6.2.3 等价技术级别评定过程
- 6.2.4 等价技术级别评定例题
- 6.3 等价性问题的理论处理方法
- 复习题
- 第7章 实验
- 实验1 DDA基本空间分辨力测定
- 实验2 DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定
- 实验3 DDA像素尺寸对缺陷检测的影响
- 实验4 IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响
- 实验5 曝光量对检测图像质量的影响
- 实验6 最佳放大倍数试验
- 实验7 曝光曲线制作
- 实验8 图像软件使用
- 实验9 DDA数字射线检测系统使用
- 实验10 CR数字射线检测系统使用
- 附录
- 附录A 辐射探测器的基础性知识
- A.1 辐射探测器的物理基础
- A.2 半导体基本知识
- A.3 构成辐射探测器的光电探测器件与材料
- A.4 辐射探测器的一般特性
- A.5 半导体探测器的辐射损伤
- 附录B 采样定理说明
- B.1 采样概念
- B.2 采样定理概念
- B.3 采样定理讨论方法
- B.4 采样定理确定方法
- 附录C 数字图像增强处理技术简介
- C.1 概述
- C.2 对比度增强处理
- C.3 图像锐化处理
- C.4 图像平滑处理
- C.5 伪彩色处理
- 附录D 动态数字射线检测技术
- D.1 检测图像不清晰度的一般考虑
- D.2 动态检测方式几何不清晰度的考虑方法
- D.3 动态检测方式的几何不清晰度
- 附录E 射线检测技术系统的调制传递函数
- E.1 调制传递函数
- E.2 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度
- E.3 矩形函数近似处理
- E.4 指数函数近似 ——傅里叶变换理论处理
- E.5 两种函数的比较
- 附录F 复习参考题答案
- 第1章 复习题参考答案
- 第2章 复习题参考答案
- 第3章 复习题参考答案
- 第4章 复习题参考答案
- 第5章 复习题参考答案
- 第6章 复习题参考答案
- 参考文献
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出版方
机械工业出版社
机械工业出版社是全国优秀出版社，自1952年成立以来，坚持为科技、为教育服务，以向行业、向学校提供优质、权威的精神产品为宗旨，以“服务社会和人民群众需求，传播社会主义先进文化”为己任，产业结构不断完善，已由传统的图书出版向着图书、期刊、电子出版物、音像制品、电子商务一体化延伸，现已发展为多领域、多学科的大型综合性出版社，涉及机械、电工电子、汽车、计算机、经济管理、建筑、ELT、科普以及教材、教辅等领域。
