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191千字 字数
2018-01-01 发行日期
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主编推荐语

红外成像原理、系统设计、校正算法、细节增强及超分辨率处理。

内容简介

本书共分7章。前两章介绍红外探测器的成像原理，第3章介绍红外成像的硬件系统设计，第4章介绍红外图像的非均匀性校正算法，第5章介绍红外图像的数字细节增强算法，第6章介绍红外图像的超分辨率处理方法，第7章介绍红外成像系统的测试方法。

目录

  • 封面
  • 书名页
  • 内容简介
  • 版权页
  • 前言
  • 目录
  • 第1章　绪论
  • 1.1　红外辐射
  • 1.1.1　引言
  • 1.1.2　红外辐射定律与特性
  • 1.1.3　红外辐射在大气中的传输
  • 1.1.4　红外光学系统
  • 1.2　热成像技术
  • 1.2.1　热成像技术解决的基本问题
  • 1.2.2　热成像技术的作用与地位
  • 1.2.3　热成像技术的军事应用
  • 1.2.4　热成像技术在国民经济领域的应用
  • 1.3　红外探测器与热成像技术的关系
  • 第2章　红外焦平面阵列
  • 2.1　红外焦平面阵列简介
  • 2.1.1　扫描型和凝视型红外焦平面阵列
  • 2.1.2　红外焦平面阵列的结构
  • 2.1.3　典型的红外焦平面阵列
  • 2.2　热绝缘结构的重要性
  • 2.3　主要热探测机理
  • 2.3.1　热电探测器和铁电测辐射热计
  • 2.3.2　热电偶探测器
  • 2.3.3　电阻微测辐射热计
  • 2.3.4　电阻微测辐射热计的模型
  • 2.3.5　温差电探测器
  • 2.4　重要极限
  • 2.4.1　温度波动噪声极限
  • 2.4.2　背景波动噪声极限
  • 2.4.3　非制冷热成像焦平面阵列设计
  • 2.5　非制冷凝视红外焦平面读出电路
  • 2.5.1　红外焦平面阵列读出电路读出方式
  • 2.5.2　非制冷红外焦平面阵列输入电路
  • 2.6　非制冷凝视红外焦平面成像模型
  • 第3章　红外成像电子系统设计
  • 3.1　引言
  • 3.2　低噪声偏置电压及高精度数字信号的实现
  • 3.3　多次采样滤波技术
  • 3.4　红外焦平面自适应偏置电压技术
  • 3.5　系统构架搭建
  • 3.5.1　Qsys平台Avalon总线和Nios处理器
  • 3.5.2　基于Qsys平台和Avalon总线的系统架构
  • 3.5.3　基于Qsys平台和Avalon总线的模块算法实现
  • 第4章　红外图像的非均匀性校正
  • 4.1　非均匀性定义
  • 4.2　非均匀性成因
  • 4.3　常用的非均匀性校正方法
  • 4.3.1　基于定标的非均匀性校正算法
  • 4.3.2　基于场景的非均匀性校正算法
  • 4.4　单帧非均匀性去条纹算法
  • 4.4.1　基于边缘灰度级共生矩阵条纹非均匀性校正方法
  • 4.4.2　基于中间均衡直方图条纹非均匀性校正方法
  • 4.4.3　基于全变分的条纹非均匀性校正方法
  • 4.4.4　基于相邻灰度继承的条纹非均匀性校正方法
  • 4.4.5　基于自适应灰度调整的条纹非均匀性校正方法
  • 4.4.6　基于常数先验的条纹非均匀性校正方法
  • 第5章　红外图像细节增强
  • 5.1　红外图像细节增强的意义和概述
  • 5.2　基于频域和空域红外图像细节增强技术
  • 5.3　基于双边滤波的红外图像细节增强技术
  • 5.4　基于混合滤波红外图像细节增强技术
  • 5.5　基于傅里叶变换的红外图像细节增强技术
  • 5.6　基于直方图的红外图像细节增强技术
  • 5.6.1　基于梯度直方图的红外图像细节增强技术
  • 5.6.2　基于自适应双平台直方图均衡细节增强算法
  • 5.7　新型红外图像细节增强技术
  • 5.7.1　基于Retinex红外图像细节增强技术
  • 5.7.2　基于小波的红外图像细节增强技术
  • 5.7.3　基于模糊域理论的红外图像细节增强技术
  • 第6章　红外图像的超分辨率处理技术
  • 6.1　引言
  • 6.2　非制冷凝视红外焦平面微扫描理论
  • 6.2.1　微扫描成像的理论基础
  • 6.2.2　微扫描成像方案比较
  • 6.2.3　改进的平板光学元件微扫描方案及锗片倾斜角度模型
  • 6.3　微扫描成像技术的具体实现
  • 6.3.1　红外光学系统选取
  • 6.3.2　微扫描器的设计
  • 6.3.3　驱动电机的选取
  • 6.4　图像超分辨率重建算法
  • 6.4.1　基于边缘定位的多帧红外微扫描图像位移误差补偿
  • 6.4.2　基于主结构分离的稀疏表示单帧图像超分辨率重建
  • 6.4.3　基于流形正则协同支持的单帧图像超分辨率重建
  • 第7章　红外成像系统的测试方法
  • 7.1　红外探测器参数测试方法
  • 7.2　基于虚拟仪器的可视化多模式测试与仿真系统
  • 7.2.1　虚拟仪器技术
  • 7.2.2　基于虚拟仪器的可视化多模式测试与仿真系统组成
  • 7.2.3　系统工作原理
  • 7.3　凝视焦平面探测器参数测试技术
  • 7.3.1　凝视焦平面探测器组件
  • 7.3.2　凝视焦平面探测器盲元测试技术研究
  • 7.3.3　凝视焦平面探测器非均匀性测试技术研究
  • 7.4　红外成像机芯测试方法
  • 7.4.1　NETD噪声等效温差的测试
  • 7.4.2　MRTD最小可分辨温差的测试
  • 7.4.3　MTF调制传递函数的测试
  • 7.4.4　MDTD最小可探测温差的测试
  • 7.4.5　红外整机性能测试
  • 参考文献
  • 反侵权盗版声明
  • 封底
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出版方

电子工业出版社

电子工业出版社成立于1982年10月，是国务院独资、工信部直属的中央级科技与教育出版社，是专业的信息技术知识集成和服务提供商。经过三十多年的建设与发展，已成为一家以科技和教育出版、期刊、网络、行业支撑服务、数字出版、软件研发、软科学研究、职业培训和教育为核心业务的现代知识服务集团。出版物内容涵盖了电子信息技术的各个分支及工业技术、经济管理、科普与少儿、社科人文等领域，综合出版能力位居全国出版行业前列。